SEE Moyens d'étude des événements singuliers en environnement spatial
Testeur fonctionnel µSET monté
dans l'enceinte "cible" de la ligne ESA à UCL.
Objectifs
Etudier les événements singuliers (SEE) dans les composants électroniques induits par le rayonnement cosmique ou les protons piégés des ceintures de Van Allen
Valider les codes de prédiction et méthodologies de test des circuits via les expériences embarquées
Moyens de simulation
Irradiateur CIRIL équipé de sources Cf252 et Am 241
Accès privilégié à l'accélérateur Tandem 14 MV de l'IPN d'Orsay (gestion de la ligne)
Accès à des moyens complémentaires : essentiellement UCL (Belgique), JYFL (Finlande), IPN (France), CPO (France) et PSI (Suisse)
Moyens de caractérisation
Système MTRSEL :
caractérisation des événements SEL pour tout type de composants (testeur multi-tension, 8 voies)
Système µSET :
banc de test miniature pour la caractérisation SEE de composants numériques complexes (configurable en ligne par FPGA)
Expériences embarquées
Cartes "composants" permettant le test de composants numériques en situation réelle sur diverses missions (MIR, ISS, SAC-C, MPTB)
Actuellement, cartes "composants" de caractérisation SEE/TID sur ISS (SPICA-S), SAC-C (ICARE)
Financement
Centre National d'Etudes Spatiales (CNES)
Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales (ONERA)
