Alors que la meilleure mesure du Principe d' équivalence, pilier de la relativité générale, n' avait pas été dépassée depuis 10 ans, les premiers résultatsdusatelliteMicroscopeduCNES, équipé des accéléromètres de l'ONERA, permettent de faire aujourd' hui 10 fois mieux. Ces résultats démontrent, avec une précision inégalée, soit 2 10 -14, que les corps tombent dans vide avec la même accélération, quelle que soit leur composition
Alors que la meilleure mesure du Principe d' équivalence, pilier de la relativité générale, n' avait pas été dépassée depuis 10 ans, les premiers résultatsdusatelliteMicroscopeduCNES, équipé des accéléromètres de l'ONERA, permettent de faire aujourd' hui 10 fois mieux. Ces résultats démontrent, avec une précision inégalée, soit 2 10 -14, que les corps tombent dans vide avec la même accélération, quelle que soit leur composition
Alors que la meilleure mesure du Principe d' équivalence n' avait pas été dépassée depuis 10 ans, les premiers résultatsdusatelliteMICROSCOPEduCNES, équipé des accéléromètres de l'ONERA, permettent de faire aujourd' hui 10 fois mieux
En 2017, les premiers résultatsdusatelliteMICROSCOPEduCNES, équipé des accéléromètres de l'ONERA, permettaient d' améliorer la précision du test Principe d' équivalence (ou universalité de la chute libre) à un niveau qui l'avait placé en référence mondiale. Grâce à premières données disponibles, ces résultats avaient été obtenus par le laboratoire Géoazur (CNRS / OCA / UCA / IRD) et l'ONERA en coopération avec le CNES et en partenariat avec le science working group (CNRS, IHES, Imperial College, université de Brème, DLR, université de Delft, IGN
Avec le CNES dans l'avion ZéroG: la mission spatiale Microscope. Sur le stand duCNES, l'ONERA présente sa contribution essentielle à une expérience spatiale inédite, Microscope. Le satelliteMicroscope doit réaliser en orbite une expérience de physique théorique fondamentale: la mise à l'épreuve du postulat de la relativité générale connu sous le nom de principe d' équivalence
Ces moyens sont variés et vont de la caractérisation structurale (ellipsomètre infrarouge, Microscope électronique), la mesure des propriétés optiques (spectromètres FTIR, couplé à un microscope, sources laser et OPO accordables) et les propriétés opto électroniques (cryostat sous pointes, mesures de réponses spectrale et angulaire