Journée organisée par Le Département Matériaux et Structures Métalliques de l’ONERA
Accéder au formulaire d'inscription en ligne
ou
télécharger le bulletin d'inscription
Objectifs
La Microscopie Electronique à Balayage (MEB) associée aux techniques de caractérisation chimique par microanalyse X et cristallographique par analyse EBSD sont des outils essentiels pour l'étude des matériaux. Historiquement, le premier MEB date du début des années 60, alors que l'on doit au Professeur Castaing la méthode dite de microanalyse, développée lors de ses travaux de thèse à l'ONERA en 1951, avec la mise au point d’un instrument dédié qui sera commercialisé quelques années plus tard sous le nom de "Microsonde de Castaing".
Cette technique d'analyse quantitative locale est basée sur l'exploitation du rayonnement X émis par un volume de matière de l'ordre du micron cube de l'échantillon irradié par un faisceau d'électrons focalisé. Elle constitue en cela une méthode appropriée à l'étude à l’échelle fine des microstructures des matériaux. Sa mise en oeuvre dans le MEB a été toute naturelle comme accessoire d'analyse en complément de l'imagerie électronique.
Par ailleurs, le développement instrumental de la microsonde électronique, instrument plus spécifiquement dédié à l'analyse s'est poursuivi jusqu'à aujourd'hui. En parallèle a été mise au point dans le MEB la technique EBSD de caractérisation micro cristallographique basée sur l'exploitation des clichés de diffraction des électrons rétrodiffusés par l'échantillon (Electron BackScaterred Diffraction). Même si les premiers clichés EBSD datent de 1967, cette technique plus récente est effective dans un mode d'utilisation automatique depuis 1992.
Aux travers des divers exposés scientifiques, illustrant l'intérêt et l'apport de ces deux techniques de caractérisation indispensables à l'étude des matériaux, l'ONERA tient à rendre hommage au Professeur Castaing. Ces exposés seront enrichis par le témoignage de deux scientifiques qui ont partagé avec le Professeur Castaing un bout de leur parcours. Les exposés seront courts pour laisser le temps à la discussion.
Conférences
| 8h45 | Accueil |
| 9h00 | Récents développements de la diffraction ectronique dans un MEB au LEM 3 - J. Guyon (Université de Lorraine/LEM3) |
| 9h30 | EBSD haute résolution - D. Dingley (BLGAVANTAGE) |
| 10h00 | Pause |
| 10h15 | Apport de la microanalyse X en MEB à l'étude de la diffusion et des transformations de phases - M. Perrut (ONERA) |
| 10h45 | Microanalyse X 3D - M. Cantoni (EPFL) |
| 11h15 | Souvenir du Professeur Castaing - B. Jouffrey et G. Slodzian |
| 12h00 | Visite du Laboratoire Castaing - D. Boivin (ONERA/DMSM) |
Participation
La journée est ouverte à tout auditeur. Il n’y a pas de frais d’inscription. En raison du nombre limité de places de la salle de conférence (100 places), nous vous demandons de vous inscrire le plus rapidement possible. Les inscriptions se feront par ordre d’arrivée.
Les participants auront la possibilité de déjeuner sur place.
Le repas sera à la charge du participant (15 à 25€).
Contact
Accéder au formulaire d'inscription en ligne
ou renvoyez avant le 14 octobre 2016 le bulletin d'inscription disponible sur la plaquette à :
Sophie GARABEDIAN
ONERA/DMSM
29 avenue de la Division Leclerc
92320 Châtillon
secretariat-dmsm (@) onera.fr
Les personnes non ressortissantes de l'Union Européenne sont invitées à s’inscrire avant le 14/10/2016.
Plan d'accès
ONERA
Salle Contensou
BP72 - 29 avenue de la Division Leclerc
FR-92322
CHATILLON CEDEX
http://www.onera.fr/fr/nos-centres/chatillon
